基本信息:
- 专利标题： METHOD AND APPARATUS FOR AUTHENTICATING A SEMICONDUCTOR DIE
- 专利标题（中）：用于认证半导体器件的方法和装置
- 申请号：PCT/IB2014/002983 申请日：2014-10-30
- 公开(公告)号：WO2015063606A1 公开(公告)日：2015-05-07
- 发明人： MCKINLEY, Patrick, A. , McNALL, Walter, Lee , SHREEVE, Robert, W. , BRUCH, Thomas, Page , JAARSMA, Neal, C.
- 申请人： MARVELL WORLD TRADE LTD.
- 申请人地址： L'Horizon, Gunsite Road, Brittons Hill St. Michael, BB14027 BB
- 专利权人： MARVELL WORLD TRADE LTD.
- 当前专利权人： MARVELL WORLD TRADE LTD.
- 当前专利权人地址： L'Horizon, Gunsite Road, Brittons Hill St. Michael, BB14027 BB
- 代理机构： COLBY, Michael, K.
- 优先权： US61/899,406 20131104; US61/899,417 20131104
- 主分类号： G06F21/73
- IPC分类号： G06F21/73 ; H01L23/00
摘要：
The present disclosure describes apparatuses and techniques for device-based die authentication. In some aspects, an intensity of a particle beam is varied during semiconductor processing to provide a semiconductor die having devices of varied values. In other aspects, different areas of semiconductor dies are exposed during semiconductor processing to provide semiconductor dies with devices that vary in value from one die to the next. For each semiconductor die, a value generated based on the values of the die's respective devices can be associated with that die thereby enabling subsequent authentication of the semiconductor die.
摘要（中）：
本公开描述了用于基于设备的管芯认证的设备和技术。 在一些方面，粒子束的强度在半导体处理期间变化以提供具有不同值的器件的半导体管芯。 在其他方面，半导体管芯的不同区域在半导体处理期间被暴露，以向半导体管芯提供从一个管芯到下一个管芯的价值变化的器件。 对于每个半导体管芯，基于管芯的各个器件的值产生的值可以与该管芯相关联，从而能够进行半导体管芯的后续认证。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G06 | 计算；推算；计数 |
| ----G06F | 电数字数据处理 |
| ------G06F21/00 | 防止未授权行为的保护计算机或计算机系统的安全装置 |
| --------G06F21/10 | .保护分布式程序或内容，例如版权资料的出售或许可 |
| ----------G06F21/71 | ..确保安全计算或信息处理 |
| ------------G06F21/73 | ...通过创建或确定硬件标识，例如序列号 |