基本信息:
- 专利标题： 加熱及び加圧により劣化した製品のクリープ余寿命の予測方法、及び、この予測方法に用いる検量線作成方法
- 专利标题（英）：Method for predicting creep residual life of product degraded by heat and pressure, and method for creating calibration curve used in the prediction method
- 专利标题（中）：用于预测通过热和压力降低的产品的残留寿命的方法，以及用于创建在预测方法中使用的校准曲线的方法
- 申请号：PCT/JP2013/078957 申请日：2013-10-25
- 公开(公告)号：WO2015059815A1 公开(公告)日：2015-04-30
- 发明人： 荒川 大輔 , 西田 秀高 , 松村 栄郎 , 森下 啓司
- 申请人： 中国電力株式会社
- 申请人地址： 〒7308701 広島県広島市中区小町4番33号 Hiroshima JP
- 专利权人： 中国電力株式会社
- 当前专利权人： 中国電力株式会社
- 当前专利权人地址： 〒7308701 広島県広島市中区小町４番３３号 Hiroshima JP
- 代理机构： 一色国際特許業務法人
- 主分类号： G01N17/00
- IPC分类号： G01N17/00 ; G01M99/00 ; G01N3/00 ; G01N33/20
摘要：
【課題】加熱及び加圧により劣化した製品のクリープ余寿命を予測する方法を提供する。すなわち、製品の表面において任意の評価範囲を設定する工程と、評価範囲内において亀裂が生じているか否かを判定する工程とを含み、評価範囲内において亀裂が生じていない場合には、評価範囲内において、ボイドの個数密度を求める工程と、得られたボイドの個数密度から前記製品の損傷率を求める工程とをさらに含む方法とし、評価範囲内において、亀裂が生じている場合には、評価範囲内において生じた最大亀裂がまたがる結晶粒の数を求める工程と、得られた結晶粒の数から製品の損傷率を求める工程とをさらに含む方法とし、製品がベイナイト組織を有することを特徴とする、クリープ余寿命予測方法とする。
摘要（中）：
[问题]提供一种用于预测由于热和压力而退化的产品的蠕变残余寿命的方法。 具体地，提供了一种用于预测蠕变残余寿命的方法，其特征在于，该方法包括在产品表面上建立自由评估范围的步骤，以及用于确定在评估范围内是否发生裂纹的步骤， 并且还包括在评价范围内没有发生龟裂的情况下计算评价范围内的空隙数密度的步骤，并且从空隙数密度计算产品的损伤率的步骤 该方法还包括如下步骤：在评估范围内发生裂纹的情况下，计算出在评估范围内发生的最大裂纹所切割的晶粒数，并且其中损伤 产物的比例由所得晶粒的数量计算，产物具有贝氏体结构。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N17/00 | 测试材料的耐气候，耐腐蚀，或耐光照性能 |