基本信息:
- 专利标题： A METHOD FOR INSPECTING A MANUFACTURING DEVICE
- 专利标题（中）：检查制造设备的方法
- 申请号：PCT/US2013/030508 申请日：2013-03-12
- 公开(公告)号：WO2013138331A1 公开(公告)日：2013-09-19
- 发明人： ROMANELLI, James , BEATTIE, Jeffrey S. , BOYER, Jesse R. , ERICKSON, Robert E. , JOYNER, Randall W. , SNYDER, Daniel A. , KRAUSE, David A. , TONG, Kun
- 申请人： UNITED TECHNOLOGIES CORPORATION
- 申请人地址： 1 Financial Plaza Hartford, CT 06101 US
- 专利权人： UNITED TECHNOLOGIES CORPORATION
- 当前专利权人： UNITED TECHNOLOGIES CORPORATION
- 当前专利权人地址： 1 Financial Plaza Hartford, CT 06101 US
- 代理机构： BALICH, Garrett W.
- 优先权： US13/417,990 20120312
- 主分类号： G01N21/84
- IPC分类号： G01N21/84 ; G01B11/00 ; G01M13/00
摘要：
A method is provided for inspecting a plurality of parts with an electronic measurement device and a processing system. The method includes a step of creating surface geometry maps of the parts utilizing the electronic measurement device, where each part was manufactured utilizing the manufacturing device. Geometric part models of the parts are generated from the surface geometry maps. The part models can subsequently be analyzed to determine whether a manufacturing device that manufactured the plurality of parts manufactures parts that comply with a part design specification.
摘要（中）：
提供了一种利用电子测量装置和处理系统检查多个部件的方法。 该方法包括使用电子测量装置创建部件的表面几何图形的步骤，其中每个部件利用制造装置制造。 部件的几何零件模型从表面几何图生成。 随后可以分析零件模型以确定制造多个零件的制造装置是否制造符合零件设计规范的零件。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N21/00 | 利用光学手段，即利用红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料 |
| --------G01N21/84 | .专用于特殊应用的系统 |