基本信息:
- 专利标题： SUSCEPTIBILITY GRADIENT MAPPING
- 专利标题（中）：易感性梯度映射
- 申请号：PCT/IB2011/050230 申请日：2011-01-19
- 公开(公告)号：WO2011089551A2 公开(公告)日：2011-07-28
- 发明人： SÉNÉGAS, Julien , PERKINS, Thomas
- 申请人： KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. , PHILIPS INTELLECTUAL PROPERTY & STANDARDS GMBH , SÉNÉGAS, Julien , PERKINS, Thomas
- 申请人地址： Groenewoudseweg 1 NL-5621 BA Eindhoven NL
- 专利权人： KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.,PHILIPS INTELLECTUAL PROPERTY & STANDARDS GMBH,SÉNÉGAS, Julien,PERKINS, Thomas
- 当前专利权人： KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.,PHILIPS INTELLECTUAL PROPERTY & STANDARDS GMBH,SÉNÉGAS, Julien,PERKINS, Thomas
- 当前专利权人地址： Groenewoudseweg 1 NL-5621 BA Eindhoven NL
- 代理机构： VAN VELZEN, Maaike, M. et al.
- 优先权： US61/297,299 20100122
- 主分类号： G01R33/565
- IPC分类号： G01R33/565
摘要：
The invention relates to a method of determining a susceptibility gradient map, the method comprising acquiring (300) a magnetic resonance k- space dataset, said dataset comprising magnetic resonance echo data, wherein a recursive iteration is used to determine the susceptibility gradient map. Further, the invention relates to a method of determining a susceptibility gradient map, the method comprising acquiring a magnetic resonance k-space dataset, said dataset comprising magnetic resonance echo data, wherein the acquired dataset comprises magnetic resonance echo data of multiple echoes with different echo times, wherein a susceptibility gradient map is determined separately for each echo time resulting in a temporary susceptibility gradient map, wherein the method further comprises calculating a total susceptibility gradient map by combining all determined temporary susceptibility gradient maps.
摘要（中）：
本发明涉及一种确定磁化率梯度地图的方法，该方法包括获取（300）的磁共振k-空间数据集，所述数据集包括磁共振回波数据，其中，递归迭代使用 以确定磁化率梯度图。 此外，本发明涉及一种确定磁化率梯度地图的方法，该方法包括获取磁共振k空间数据集，所述数据集包括磁共振回波数据，其中，所获取的数据集包括具有不同回波多重回波的磁共振回波数据 其中针对每个回波时间分别确定磁化率梯度图以产生临时磁化率梯度图，其中所述方法进一步包括通过组合所有确定的临时磁化率梯度图来计算总磁化率梯度图。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R33/00 | 测量磁变量的装置或仪器 |
| --------G01R33/02 | .测量磁场或磁通量的方向或大小 |
| ----------G01R33/24 | ..用于测量磁场或磁通量的方向或大小 |
| ------------G01R33/46 | ...核磁共振频谱 |
| --------------G01R33/54 | ....信号处理系统，如使用脉冲序列 |
| ----------------G01R33/56 | .....图像增强或修正，如减法或平均技术 |
| ------------------G01R33/565 | ......图像畸变修正，如由于磁场不均匀性 |