发明申请
WO2011038166A3 MEASURING PHASE NOISE IN RADIO FREQUENCY, MICROWAVE OR MILLIMETER SIGNALS BASED ON PHOTONIC DELAY
审中-公开
基本信息:
- 专利标题: MEASURING PHASE NOISE IN RADIO FREQUENCY, MICROWAVE OR MILLIMETER SIGNALS BASED ON PHOTONIC DELAY
- 专利标题(中):基于光子延迟的射频,微波或毫米波信号中的相位噪声测量
- 申请号:PCT/US2010050083 申请日:2010-09-23
- 公开(公告)号:WO2011038166A3 公开(公告)日:2011-08-18
- 发明人: ELIYAHU DANNY , MALEKI LUTE , SEIDEL DAVID
- 申请人: OEWAVES INC , ELIYAHU DANNY , MALEKI LUTE , SEIDEL DAVID
- 专利权人: OEWAVES INC,ELIYAHU DANNY,MALEKI LUTE,SEIDEL DAVID
- 当前专利权人: OEWAVES INC,ELIYAHU DANNY,MALEKI LUTE,SEIDEL DAVID
- 优先权: US24495909 2009-09-23; US33366510 2010-05-11
- 主分类号: G01R29/26
- IPC分类号: G01R29/26 ; G01R25/00 ; G01R29/02 ; G01R29/08
摘要:
Techniques and devices for measuring phase noise in radio frequency (RF), microwave, or millimeter signals based on photonic delay.
摘要(中):
用于测量基于光子延迟的射频(RF),微波或毫米信号中相位噪声的技术和设备。
IPC结构图谱:
G | 物理 |
--G01 | 测量;测试 |
----G01R | 测量电变量;测量磁变量(通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
------G01R29/00 | 不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置 |
--------G01R29/26 | .噪声值的测量;信噪比的测量 |