基本信息:
- 专利标题: IDENTIFYING AT-RISK DATA IN NON-VOLATILE STORAGE
- 专利标题(中):在非易失性存储中识别AT-RISK数据
- 申请号:PCT/US2010047951 申请日:2010-09-07
- 公开(公告)号:WO2011031660A3 公开(公告)日:2011-05-12
- 发明人: PEI GEN , GU LANLAN , MOKHLESI NIMA , ALROD IDAN , SHARON ERAN , AFRIAT ITSHAK
- 申请人: SANDISK CORP , PEI GEN , GU LANLAN , MOKHLESI NIMA , ALROD IDAN , SHARON ERAN , AFRIAT ITSHAK
- 专利权人: SANDISK CORP,PEI GEN,GU LANLAN,MOKHLESI NIMA,ALROD IDAN,SHARON ERAN,AFRIAT ITSHAK
- 当前专利权人: SANDISK CORP,PEI GEN,GU LANLAN,MOKHLESI NIMA,ALROD IDAN,SHARON ERAN,AFRIAT ITSHAK
- 优先权: US24175009 2009-09-11
- 主分类号: G11C16/34
- IPC分类号: G11C16/34 ; G06F11/10
摘要:
The non-volatile storage system predicts which blocks (or other units of storage) will become bad based on performance data. User data in those blocks predicted to become bad can be re-programmed to other blocks, and the blocks predicted to become bad can be removed from further use.
摘要(中):
非易失性存储系统根据性能数据预测哪些块(或其他存储单元)会变得不好。 预测这些块中的用户数据变差,可以将其重新编程为其他块,并且预测变坏的块可以从进一步的使用中移除。
公开/授权文献:
- WO2011031660A4 IDENTIFYING AT-RISK DATA IN NON-VOLATILE STORAGE 公开/授权日:2011-07-07
IPC结构图谱:
G | 物理 |
--G11 | 信息存储 |
----G11C | 静态存储器 |
------G11C16/00 | 可擦除可编程序只读存储器 |
--------G11C16/02 | .电可编程序的 |
----------G11C16/06 | ..辅助电路,例如,用于写入存储器的 |
------------G11C16/34 | ...编程状态的确定,例如,阈值电压、过编程或欠编程、保留 |