基本信息:
- 专利标题： GRANULOMETRE PERFECTIONNE
- 专利标题（英）：Improved particle size analyzer
- 专利标题（中）：改进的颗粒尺寸分析仪
- 申请号：PCT/FR2010/000470 申请日：2010-06-24
- 公开(公告)号：WO2010149885A1 公开(公告)日：2010-12-29
- 发明人： FROT, Didier , JACOB, David
- 申请人： IFP ENERGIES NOUVELLES , CORDOUAN TECHNOLOGIES , FROT, Didier , JACOB, David
- 申请人地址： 1 et 4, avenue de Bois Préau F-92852 Rueil Malmaison Cedex FR
- 专利权人： IFP ENERGIES NOUVELLES,CORDOUAN TECHNOLOGIES,FROT, Didier,JACOB, David
- 当前专利权人： IFP ENERGIES NOUVELLES,CORDOUAN TECHNOLOGIES,FROT, Didier,JACOB, David
- 当前专利权人地址： 1 et 4, avenue de Bois Préau F-92852 Rueil Malmaison Cedex FR
- 代理机构： IFP ENERGIES NOUVELLES
- 优先权： FR0903167 20090626
- 主分类号： G01N15/02
- IPC分类号： G01N15/02 ; G01N21/49
摘要：
La présente invention concerne un dispositif pour mesurer l'intensité de la lumière diffusée par un film mince d'un milieu colloïdal comprenant: une source lumineuse monochromatique; un système optique convergent focalisant ladite source sur le film mince à analyser et comprenant un élément dioptrique (7) dont une des faces constitue une première paroi délimitant le film mince; au moins un détecteur photosensible réagissant à la lumière diffusée ou rétro diffusée par le film mince; des moyens de traitement du signal issu du photo détecteur. Selon le dispositif, l'autre deuxième paroi est formée par une surface plane (3) à l'extrémité d'un barreau (2).
摘要（中）：
本发明涉及一种用于测量由胶体介质的薄膜散射的光的强度的装置，包括：单色光源; 聚光光学系统，将所述光源聚焦在要分析的薄膜上，并包括一个折射元件（7），其中一个面构成了限定薄膜的第一壁; 至少一个光敏检测器对由薄膜散射或反向散射的光线反应; 以及用于处理来自光电探测器的信号的装置。 根据该装置，另一个第二壁由杆（2）的端部上的平面（3）形成。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N15/00 | 测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积 |
| --------G01N15/02 | .测试颗粒的粒度或粒经分布 |