发明申请
WO2008068290A1 VERFAHREN UND HALBLEITERSPEICHER MIT EINER EINRICHTUNG ZUR ERKENNUNG VON ADRESSIERUNGSFEHLERN
审中-公开
基本信息:
- 专利标题： VERFAHREN UND HALBLEITERSPEICHER MIT EINER EINRICHTUNG ZUR ERKENNUNG VON ADRESSIERUNGSFEHLERN
- 专利标题（英）：Method and semiconductor memory with a device for detecting addressing errors
- 专利标题（中）：方法及半导体存储器，具有一种用于检测寻址错误的
- 申请号：PCT/EP2007/063367 申请日：2007-12-05
- 公开(公告)号：WO2008068290A1 公开(公告)日：2008-06-12
- 发明人： FEY, Wolfgang , TRASKOV, Adrian , KABULEPA, Lukusa, Didier , AMJADI, Houman
- 申请人： CONTINENTAL TEVES AG & CO. OHG , FEY, Wolfgang , TRASKOV, Adrian , KABULEPA, Lukusa, Didier , AMJADI, Houman
- 申请人地址： Guerickestrasse 7 60488 Frankfurt DE
- 专利权人： CONTINENTAL TEVES AG & CO. OHG,FEY, Wolfgang,TRASKOV, Adrian,KABULEPA, Lukusa, Didier,AMJADI, Houman
- 当前专利权人： CONTINENTAL TEVES AG & CO. OHG,FEY, Wolfgang,TRASKOV, Adrian,KABULEPA, Lukusa, Didier,AMJADI, Houman
- 当前专利权人地址： Guerickestrasse 7 60488 Frankfurt DE
- 代理机构： CONTINENTAL TEVES AG & CO. OHG
- 优先权： DE10 20061207; DE10 20071205
- 主分类号： G11C29/02
- IPC分类号： G11C29/02
摘要：
Verfahren zur verbesserten internen Überwachung von Adressierungsschaltungen in Halbleiterspeichern oder in einem datenverarbeitenden System, bei dem ein Abgriff von logischen Pegeln an den Adressierungsleitungen (1, 1', 1''), eine Darstellung der tatsächlich ausgewählten Adresse oder Teiladresse mittels zusätzlicher Adressbitleitungen (13), eine Rückgewinnung der tatsächlich zugegriffenen Adresse/Teiladresse mit den Adressbitleitungen (13) und ein Vergleich der tatsächlich ausgewählten Adresse/Teiladresse mit der aus den zusätzlichen Adressbitleitungen gewonnenen, anliegenden Adresse/Teiladresse zur Fehlererkennung eines Fehlers in der Adressierungsschaltung erfolgt. Die Erfindung betrifft auch einen Halbleiterspeicher und ein datenverarbeitendes System mit Hardwaremitteln, die eine Durchführung des obigen Verfahrens erlauben.
摘要（中）：
一种用于在其中逻辑电平的抽头到寻址线（1,1“ 1' ”），（13）通过另外的地址位的装置的实际选择地址或部分地址的表示改进的内部监控寻址在半导体存储器中或者在数据处理系统中的电路的过程 ，然后与地址位（13）和实际选择的地址/地址与从附加地址位线所获得的，相邻的地址/地址在寻址电路的误差检测的误差的比较的实际访问的地址/地址的回收。 本发明还涉及一种半导体存储器，并用硬件资源，其允许执行上述方法的数据处理系统。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G11 | 信息存储 |
| ----G11C | 静态存储器 |
| ------G11C29/00 | 存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器 |
| --------G11C29/02 | .损坏的备用电路的检测或定位，例如，损坏的刷新计数器 |