基本信息:
- 专利标题： APPARATUS AND METHOD FOR ADJUSTING AN ORIENTATION OF PROBES
- 专利标题（中）：调整探头方向的装置和方法
- 申请号：PCT/US2006046277 申请日：2006-12-04
- 公开(公告)号：WO2007065012A3 公开(公告)日：2009-02-12
- 发明人： ELDRIDGE BENJAMIN N , HOBBS ERIC D , MATHIEU GAETAN L , SHINDE MAKARAND S , SLOCUM ALEXANDER H
- 申请人： FORMFACTOR INC , ELDRIDGE BENJAMIN N , HOBBS ERIC D , MATHIEU GAETAN L , SHINDE MAKARAND S , SLOCUM ALEXANDER H
- 专利权人： FORMFACTOR INC,ELDRIDGE BENJAMIN N,HOBBS ERIC D,MATHIEU GAETAN L,SHINDE MAKARAND S,SLOCUM ALEXANDER H
- 当前专利权人： FORMFACTOR INC,ELDRIDGE BENJAMIN N,HOBBS ERIC D,MATHIEU GAETAN L,SHINDE MAKARAND S,SLOCUM ALEXANDER H
- 优先权： US16473705 2005-12-02
- 主分类号： G01R31/02
- IPC分类号： G01R31/02
摘要：
Probes of a probe card assembly can be adjusted with respect to an element of the probe card assembly, which can be an element of the probe card assembly that facilitates mounting of the probe card assembly to a test apparatus. The probe card assembly can then be mounted in a test apparatus, and an orientation of the probe card assembly can be adjusted with respect to the test apparatus, such as a structural part of the test apparatus or a structural element attached to the test apparatus.
摘要（中）：
可以相对于探针卡组件的元件调整探针卡组件的探针，探针卡组件可以是探针卡组件的元件，其有助于将探针卡组件安装到测试装置。 然后可以将探针卡组件安装在测试装置中，并且可以相对于测试装置（例如测试装置的结构部分或连接到测试装置的结构元件）来调整探针卡组件的取向。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |
| --------G01R31/02 | .对电设备、线路或元件进行短路、断路、泄漏或不正确连接的测试 |