基本信息:
- 专利标题： METHOD AND APPARATUS FOR PATTERN-BASED SYSTEM DESIGN ANALYSIS
- 专利标题（中）：用于基于模式的系统设计分析的方法和装置
- 申请号：PCT/US2005/018003 申请日：2005-05-23
- 公开(公告)号：WO2006126989A1 公开(公告)日：2006-11-30
- 发明人： ALI, Syed, M. , KAMEN, Yury , ALUR, Deepak , CRUPI, John, P. , MALKS, Daniel, B. , KRISHNAMURTHY, Rajmohan , GODFREY, Michael, W.
- 申请人： SUN MICROSYSTEMS, INC., , ALI, Syed, M. , KAMEN, Yury , ALUR, Deepak , CRUPI, John, P. , MALKS, Daniel, B. , KRISHNAMURTHY, Rajmohan , GODFREY, Michael, W.
- 申请人地址： 4150 Network Circle, Santa Clara, CA 95054 US
- 专利权人： SUN MICROSYSTEMS, INC.,,ALI, Syed, M.,KAMEN, Yury,ALUR, Deepak,CRUPI, John, P.,MALKS, Daniel, B.,KRISHNAMURTHY, Rajmohan,GODFREY, Michael, W.
- 当前专利权人： SUN MICROSYSTEMS, INC.,,ALI, Syed, M.,KAMEN, Yury,ALUR, Deepak,CRUPI, John, P.,MALKS, Daniel, B.,KRISHNAMURTHY, Rajmohan,GODFREY, Michael, W.
- 当前专利权人地址： 4150 Network Circle, Santa Clara, CA 95054 US
- 代理机构： OSHA, Jonathan, P. et al.
- 优先权： US11/134,021 20050520; US11/134,062 20050520
- 主分类号： G06F9/44
- IPC分类号： G06F9/44
摘要：
A method for analyzing a target system, where the method includes obtaining a plurality of characteristics from the target system using a characteristics extractor wherein each of the plurality of characteristics is associated with a characteristics model, storing each of the plurality of characteristics obtained from the target system in a characteristics store, and analyzing the target system by issuing at least one query to the characteristics store to obtain an analysis result.
摘要（中）：
一种用于分析目标系统的方法，其中所述方法包括使用特征提取器从所述目标系统获得多个特征，其中所述多个特征中的每一个与特征模型相关联，存储从所述目标系统获得的所述多个特征中的每一个 系统，并通过向特征库发出至少一个查询来分析目标系统以获得分析结果。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G06 | 计算；推算；计数 |
| ----G06F | 电数字数据处理 |
| ------G06F9/00 | 电数字数据处理的控制单元 |
| --------G06F9/06 | .应用存入的程序的，即应用处理设备的内部存储来接收程序并保持程序的 |
| ----------G06F9/44 | ..用于执行专门程序的装置 |