基本信息:
- 专利标题： METHOD AND APPARATUS FOR TESTING MAGNETIC HEAD ELEMENTS
- 专利标题（中）：用于测试磁头元件的方法和装置
- 申请号：PCT/US2000/019286 申请日：2000-07-14
- 公开(公告)号：WO01004655A1 公开(公告)日：2001-01-18
- 主分类号： G01R35/00
- IPC分类号： G01R35/00 ; G11B5/455 ; G01R33/00
摘要：
The present invention includes a method and apparatus that will permit the identification of damaged magnetic head elements. One aspect of this invention includes an electromagnetic structure (10) having a core (12), a plurality of electrical windings (14), and an air gap (13) adapted to receive a head stack assembly. The coils may be connected to a power source (16) and series resonant driver (22). Some embodiments of the present invention may further comprise a controller (20) operably connected to the series resonant driver and adapted to compensate for a variation in a magnetic field strength across the air gap. Another aspect of the present invention involves a method of testing a magnetic head element. One embodiment of this method includes the steps of measuring the head's output in response to an externally applied magnetic field, Fourier transforming the output signal, and using the resulting power levels to calculate a value indicative of a distortion in the head's output.
摘要（中）：
本发明包括一种允许识别损坏的磁头元件的方法和装置。 本发明的一个方面包括具有芯（12），多个电绕组（14）和适于容纳磁头叠层组件的气隙（13）的电磁结构（10）。 线圈可以连接到电源（16）和串联谐振驱动器（22）。 本发明的一些实施例还可以包括可操作地连接到串联谐振驱动器并且适于补偿穿过气隙的磁场强度的变化的控制器（20）。 本发明的另一方面涉及一种测试磁头元件的方法。 该方法的一个实施例包括以下步骤：响应于外部施加的磁场测量磁头的输出，傅里叶变换输出信号，并且使用所得到的功率电平来计算指示磁头输出中的失真的值。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R35/00 | 包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准 |