基本信息:
- 专利标题： Heat detector and method of manufacturing heat detecting element
- 专利标题（中）：热探测器及其制热方法
- 申请号：US11815641 申请日：2006-02-03
- 公开(公告)号：US07896544B2 公开(公告)日：2011-03-01
- 发明人： Tetsuya Nagashima , Manabu Dohi , Yoshimi Kawabata , Yasuo Ohmori
- 申请人： Tetsuya Nagashima , Manabu Dohi , Yoshimi Kawabata , Yasuo Ohmori
- 申请人地址： JP Tokyo
- 专利权人： Hochiki Corporation
- 当前专利权人： Hochiki Corporation
- 当前专利权人地址： JP Tokyo
- 代理机构： Sherr & Vaughn, PLLC
- 优先权： JP2005-030981 20050207; JP2005-059248 20050303
- 国际申请： PCT/JP2006/301880 WO 20060203
- 国际公布： WO2006/082930 WO 20060810
- 主分类号： G01K7/00
- IPC分类号： G01K7/00
摘要：
To provide a heat detector in which thermal responsiveness of a heat detecting unit such as a ceramic element is improved.A heat detector 1 includes a ceramic element 10 accommodated in a sensing-device main body, and measures a temperature in a monitoring area based on a dielectric constant of the ceramic element 10. The Curie point temperature of the ceramic element 10 is set in a predetermined sensitive temperature range.
摘要（中）：
提供一种能够提高诸如陶瓷元件的热检测单元的热响应性的热检测器。 热检测器1包括容纳在感测装置主体中的陶瓷元件10，并且基于陶瓷元件10的介电常数来测量监视区域中的温度。陶瓷元件10的居里点温度设定为 预定的敏感温度范围。
公开/授权文献:
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01K | 温度测量；热量测量；未列入其他类目的热敏元件 |
| ------G01K7/00 | 以应用直接对热敏感的电或磁性元件为基础的温度测量 |