基本信息:
- 专利标题： PHOTON COUNT-BASED RADIATION IMAGING SYSTEM, METHOD AND DEVICE THEREOF
- 专利标题（中）：基于光电计数的辐射成像系统，其方法和装置
- 申请号：US15031657 申请日：2014-10-23
- 公开(公告)号：US20160266054A1 公开(公告)日：2016-09-15
- 发明人： Hongguang CAO , Yunxiang LI , Hailiang ZHENG
- 申请人： NANOVISION TECHNOLOGY (BEIJING) CO., LTD
- 优先权： CN201310504035.4 20131023; CN201410137171.9 20140404; CN201410337142.7 20140715; CN201410568482.0 20141023
- 国际申请： PCT/CN2014/089368 WO 20141023
- 主分类号： G01N23/083
- IPC分类号： G01N23/083 ; A61B6/00 ; G21K1/02 ; A61B6/03 ; G01N23/04 ; G21K1/06
摘要：
A photon count-based radiation imaging system. The invention also relates to a method of implementing X-ray imaging in said system, and to key apparatus of said system. In the system, an x-ray source directs x-rays at a sample on a scanning platform. When the x-rays pass through said sample, photons carrying information about characteristics of the material at various spatial positions are produced. A photon count detector counts the photons on an imaging plane, obtains incident photon projection data and energy data, and transmits same to a 3D reconstruction system. The 3D reconstruction system reconstructs, on the basis of said projection data and energy data, the 3D structure and the matter composition inside the sample, then performs digital dyeing on the component parts of the sample, thereby differentiating the matter composition of the sample.
摘要（中）：
基于光子计数的辐射成像系统。 本发明还涉及在所述系统中实现X射线成像的方法以及所述系统的关键装置。 在系统中，x射线源将X射线引导到扫描平台上的样本。 当x射线通过所述样品时，产生携带关于材料在各种空间位置的特性的信息的光子。 光子计数检测器对成像平面上的光子进行计数，获得入射光子投影数据和能量数据，并将其传输到3D重建系统。 3D重建系统基于所述投影数据和能量数据重建样本内的3D结构和物质组成，然后对样品的组成部分进行数字染色，从而区分样品的物质组成。
公开/授权文献:
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N23/00 | 利用未包括在G01N21/00或G01N22/00组内的波或粒子辐射来测试或分析材料，例如X射线、中子 |
| --------G01N23/02 | .通过使辐射透过材料 |
| ----------G01N23/04 | ..并形成图像 |
| ------------G01N23/08 | ...利用电检测装置 |
| --------------G01N23/083 | ....辐射是X射线 |