基本信息:
- 专利标题： METHOD FOR ADJUSTING A CALIBRATION ELEMENT, AND CORRESPONDING DEVICE
- 专利标题（中）：调整校准元件和相应器件的方法
- 申请号：US14390533 申请日：2013-03-29
- 公开(公告)号：US20150318087A1 公开(公告)日：2015-11-05
- 发明人： Mattia CROCI
- 申请人： METALLUX SA
- 申请人地址： CH Mendrisio
- 专利权人： METALLUX SA
- 当前专利权人： METALLUX SA
- 当前专利权人地址： CH Mendrisio
- 优先权： ITTO2012A000293 20120403
- 国际申请： PCT/IB2013/052553 WO 20130329
- 主分类号： H01C17/24
- IPC分类号： H01C17/24 ; G01L27/00 ; H01C10/00 ; G01L25/00
摘要：
A method for adjusting the electrical behavior or characteristics of a calibration element includes adjusting the electrical behavior or characteristics of the calibration element by making one or more incisions or cuts in the calibration element.The calibration element has a plurality of apertures, and the method includes making an incision or cut in the calibration element between an edge thereof and at least one of the apertures, and/or making an incision or cut in the calibration element between at least two of the apertures.
摘要（中）：
用于调整校准元件的电气特性或特性的方法包括通过在校准元件中进行一个或多个切口或切口来调节校准元件的电气行为或特性。 校准元件具有多个孔，并且该方法包括在校准元件的边缘和至少一个孔之间进行切割或切割，和/或在校准元件之间切割或切割至少两个 的孔。
公开/授权文献:
IPC结构图谱:
| H | 电学 |
| --H01 | 基本电气元件 |
| ----H01C | 电阻器 |
| ------H01C17/00 | 制造电阻器的专用设备或方法 |
| --------H01C17/06 | .适用于在基片上涂敷电阻材料的 |
| ----------H01C17/24 | ..用除去电阻材料或增加电阻材料的方法 |