基本信息:
- 专利标题： SAMPLE ANALYZER
- 专利标题（中）：样品分析仪
- 申请号：US14799029 申请日：2015-07-14
- 公开(公告)号：US20150316569A1 公开(公告)日：2015-11-05
- 发明人： Kyozo FUJITA
- 申请人： Sysmex Corporation
- 专利权人： Sysmex Corporation
- 当前专利权人： Sysmex Corporation
- 优先权： JP2006-225498 20060822; JP2006-225499 20060822
- 主分类号： G01N35/00
- IPC分类号： G01N35/00 ; G01N35/10
摘要：
A sample analyzer is disclosed that includes: a memory configured to store a record of maintenance already performed on the sample analyzer; a display; and a display control configured to control the display to display a first table which chronologically shows the record of maintenance already performed, wherein the first table is assigned a predetermined term, in the table the term is divided into a plurality of sections.
摘要（中）：
公开了一种样本分析器，其包括：存储器，被配置为存储已经在样本分析器上执行的维护记录; 一个显示器 以及显示控制，被配置为控制所述显示器，以显示按照时间顺序显示已经执行的维护记录的第一表，其中所述第一表被分配预定项，在所述表中，所述术语被分成多个部分。
公开/授权文献:
- US09297818B2 Sample analyzer 公开/授权日：2016-03-29
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N35/00 | 不限于用G01N1/00至G01N33/00中任何单独一组提供的方法或材料所进行的自动分析；及材料的传送 |