基本信息:
- 专利标题： METHOD FOR DETECTING THE PRESENCE OF HIGH ATOMIC NUMBER ELEMENTS
- 专利标题（中）：检测高原子元素存在的方法
- 申请号：US11756027 申请日：2007-05-31
- 公开(公告)号：US20100166142A1 公开(公告)日：2010-07-01
- 发明人： Yanfeng Du , Forrest Frank Hopkins , Joseph Bendahan
- 申请人： Yanfeng Du , Forrest Frank Hopkins , Joseph Bendahan
- 申请人地址： US NY New York
- 专利权人： GENERAL ELECTRIC COMPANY
- 当前专利权人： GENERAL ELECTRIC COMPANY
- 当前专利权人地址： US NY New York
- 主分类号： G01N23/08
- IPC分类号： G01N23/08 ; G01N23/02 ; G01N23/06
摘要：
Disclosed herein is a method for detecting high atomic number elements in an article by using radiation having two different energies. The detecting of high atomic number elements can be accomplished by using an algorithm, curve fitting or using a data table. Disclosed herein too is a radiation system that uses the aforementioned method for detecting high atomic number elements.
摘要（中）：
本文公开了一种通过使用具有两种不同能量的辐射来检测物品中的高原子数元素的方法。 高原子数元素的检测可以通过使用算法，曲线拟合或使用数据表来完成。 这里也公开了使用上述检测高原子数元素的方法的辐射系统。
公开/授权文献:
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N23/00 | 利用未包括在G01N21/00或G01N22/00组内的波或粒子辐射来测试或分析材料，例如X射线、中子 |
| --------G01N23/02 | .通过使辐射透过材料 |
| ----------G01N23/04 | ..并形成图像 |
| ------------G01N23/08 | ...利用电检测装置 |