基本信息:
- 专利标题： Mapping Defects on a Data Wedge Basis
- 专利标题（中）：在数据楔形基础上映射缺陷
- 申请号：US11755948 申请日：2007-05-31
- 公开(公告)号：US20080298196A1 公开(公告)日：2008-12-04
- 发明人： Stephen KowChiew Kuan , AikChuan Lim , Edmun ChianSong Seng , UttHeng Kan , Det Hua Wu
- 申请人： Stephen KowChiew Kuan , AikChuan Lim , Edmun ChianSong Seng , UttHeng Kan , Det Hua Wu
- 申请人地址： US CA Scotts Valley
- 专利权人： SEAGATE TECHNOLOGY LLC
- 当前专利权人： SEAGATE TECHNOLOGY LLC
- 当前专利权人地址： US CA Scotts Valley
- 主分类号： G11B5/58
- IPC分类号： G11B5/58
摘要：
A method to map defects is provided. A select data track of a storage medium is scanned for a defect. At least one data wedge affected by the defect on the select data track is identified. Each data wedge includes available area for writing user data defined between two servo wedges that include position information. The at least one affected data wedge is identified as unusuable.
摘要（中）：
提供了一种映射缺陷的方法。 对存储介质的选择数据轨道进行扫描以获得缺陷。 识别由选择数据轨道上的缺陷影响的至少一个数据楔。 每个数据楔包括用于写入在包括位置信息的两个伺服楔之间定义的用户数据的可用区域。 至少一个受影响的数据楔被识别为不可用。
公开/授权文献:
- US08018671B2 Mapping defects on a data wedge basis 公开/授权日：2011-09-13