发明申请
US20070226600A1 Semiconductor integrated circuit with flip-flops having increased reliability
有权
基本信息:
- 专利标题： Semiconductor integrated circuit with flip-flops having increased reliability
- 专利标题（中）：具有触发器的半导体集成电路具有增加的可靠性
- 申请号：US11505447 申请日：2006-08-17
- 公开(公告)号：US20070226600A1 公开(公告)日：2007-09-27
- 发明人： Toshio Ogawa
- 申请人： Toshio Ogawa
- 专利权人： FUJITSU LIMITED
- 当前专利权人： FUJITSU LIMITED
- 优先权： JP2006-075003 20060317
- 主分类号： G06F11/00
- IPC分类号： G06F11/00
摘要：
A semiconductor integrated circuit includes a plurality of flip-flop sets, and a logic circuit configured to consolidate error-detection signals output from the flip-flop sets into one output signal, wherein each of the flip-flop sets includes one or more flip-flops configured to latch input data in synchronization with a common clock signal, and an error detection-&-correction circuit configured to detect and correct an error in data stored in the flip-flops, and to produce one of the error-detection signals indicative of the detection of the error upon the detection of the error.
摘要（中）：
半导体集成电路包括多个触发器组，以及逻辑电路，被配置为将从触发器组输出的错误检测信号合并为一个输出信号，其中每个触发器组包括一个或多个触发器组， 触发器被配置为与公共时钟信号同步地锁存输入数据，以及错误检测和校正电路，被配置为检测和校正存储在触发器中的数据中的错误，并产生指示的错误检测信号之一 在检测到错误时检测到错误。