基本信息:
- 专利标题： System and method for the analysis of atomic force microscopy data
- 专利标题（中）：用于分析原子力显微镜数据的系统和方法
- 申请号：US10686738 申请日：2003-10-17
- 公开(公告)号：US20050081608A1 公开(公告)日：2005-04-21
- 发明人： Brett Shoelson
- 申请人： Brett Shoelson
- 申请人地址： US MD Rockville 20852
- 专利权人： National Institutes of Health
- 当前专利权人： National Institutes of Health
- 当前专利权人地址： US MD Rockville 20852
- 主分类号： G01N3/00
- IPC分类号： G01N3/00 ; G01N3/02 ; G01Q10/00 ; G01Q30/04 ; G01Q60/24 ; G01N13/16
摘要：
A system and method for the analysis of AFM data is provided. The system and method can be used in conjunction with an atomic force microscopy (AFM) system including a cantilever with a tip used to analyze a sample, the AFM outputting an AFM data file. An exemplary embodiment of the invention includes a computer readable medium storing computer readable program code for causing a computer to receive user input regarding an analysis to be performed and analysis parameters; parse the AFM data file based on the user input to obtain a deflection of the cantilever; determine an indentation depth of the tip into the sample based at least in part on the deflection; select a model of contact mechanics based on the user input; solve the selected model of contact mechanics based on the input analysis using the determined indentation depth; and determine a residual error.
摘要（中）：
提供了一种分析AFM数据的系统和方法。 该系统和方法可与原子力显微镜（AFM）系统一起使用，该系统包括具有用于分析样品的尖端的悬臂，AFM输出AFM数据文件。 本发明的示例性实施例包括存储计算机可读程序代码的计算机可读介质，用于使计算机接收关于待执行的分析和分析参数的用户输入; 基于用户输入解析AFM数据文件以获得悬臂的偏转; 至少部分地基于偏转来确定尖端到样品中的压痕深度; 根据用户输入选择接触力学模型; 基于输入分析，使用确定的压痕深度解决所选择的接触力学模型; 并确定残差。
公开/授权文献:
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N3/00 | 用机械应力测试固体材料的强度特性 |