基本信息:
- 专利标题: 在針對半導體應用之整合群集系統中形成互連結構的方法
- 专利标题(英):Methods for forming interconnection structures in an integrated cluster system for semiconductor applications
- 专利标题(中):在针对半导体应用之集成群集系统中形成互链接构的方法
- 申请号:TW104107769 申请日:2015-03-11
- 公开(公告)号:TWI685017B 公开(公告)日:2020-02-11
- 发明人: 那克美荷B , NAIK, MEHUL B. , 奈馬尼史林尼法斯D , NEMANI, SRINIVAS D. , 越澤武仁 , KOSHIZAWA, TAKEHITO , 任河 , REN, HE
- 申请人: 美商應用材料股份有限公司 , APPLIED MATERIALS, INC.
- 专利权人: 美商應用材料股份有限公司,APPLIED MATERIALS, INC.
- 当前专利权人: 美商應用材料股份有限公司,APPLIED MATERIALS, INC.
- 代理人: 蔡坤財; 李世章
- 优先权: 61/951,386 20140311;14/276,879 20140513
- 主分类号: H01L21/02
- IPC分类号: H01L21/02 ; H01L21/321 ; H01L21/768
公开/授权文献:
- TW201546876A 在針對半導體應用之整合群集系統中形成互連結構的方法 公开/授权日:2015-12-16
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
H | 电学 |
--H01 | 基本电气元件 |
----H01L | 半导体器件;其他类目未包含的电固体器件 |
------H01L21/00 | 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备 |
--------H01L21/02 | .半导体器件或其部件的制造或处理 |