发明专利
TWI347092B 調整取樣電路之取樣時脈的方法與相關裝置 METHODS FOR ADJUSTING SAMPLING CLOCK OF SAMPLING CIRCUIT AND RELATED APPARATUSES
有权
基本信息:
- 专利标题： 調整取樣電路之取樣時脈的方法與相關裝置 METHODS FOR ADJUSTING SAMPLING CLOCK OF SAMPLING CIRCUIT AND RELATED APPARATUSES
- 专利标题（英）：Methods for adjusting sampling clock of sampling circuit and related apparatuses
- 专利标题（中）：调整采样电路之采样时脉的方法与相关设备 METHODS FOR ADJUSTING SAMPLING CLOCK OF SAMPLING CIRCUIT AND RELATED APPARATUSES
- 申请号：TW095112850 申请日：2006-04-11
- 公开(公告)号：TWI347092B 公开(公告)日：2011-08-11
- 发明人： 蔡明倫
- 申请人： 瑞昱半導體股份有限公司
- 申请人地址： REALTEK SEMICONDUCTOR CORP. 新竹市新竹科學園區創新二路2號 TW
- 专利权人： 瑞昱半導體股份有限公司
- 当前专利权人： 瑞昱半導體股份有限公司
- 当前专利权人地址： REALTEK SEMICONDUCTOR CORP. 新竹市新竹科學園區創新二路2號 TW
- 代理人： 戴俊彥; 吳豐任
- 主分类号： H03K
- IPC分类号： H03K ; H03M
摘要：
一種調整一取樣電路之取樣時脈的方法，其包含有：計算該取樣電路依據一取樣時脈對一輸入訊號進行取樣所產生之複數個取樣值中相鄰兩取樣值間之差，以產生複數個差值；對該些差值進行一預定運算以產生一運算值，該預定運算會致使該些差值中一第一與一第二差值對該運算值之貢獻比大於該第一、第二差值兩者絕對值之比值，其中該第一差值之絕對值係大於該第二差值之絕對值；以及調整該取樣時脈之相位，以使該預定運算所產生之運算值滿足一預定條件。
摘要（中）：
一种调整一采样电路之采样时脉的方法，其包含有：计算该采样电路依据一采样时脉对一输入信号进行采样所产生之复数个采样值中相邻两采样值间之差，以产生复数个差值；对该些差值进行一预定运算以产生一运算值，该预定运算会致使该些差值中一第一与一第二差值对该运算值之贡献比大于该第一、第二差值两者绝对值之比值，其中该第一差值之绝对值系大于该第二差值之绝对值；以及调整该采样时脉之相位，以使该预定运算所产生之运算值满足一预定条件。