基本信息:
- 专利标题： 對位裝置及對位方法
- 专利标题（英）：Device and method for alignment
- 专利标题（中）：对位设备及对位方法
- 申请号：TW105111341 申请日：2016-04-12
- 公开(公告)号：TW201643408A 公开(公告)日：2016-12-16
- 发明人： 黎育騰 , LI, YU TANG , 曲昌盛 , CHU, CHANG SHENG , 賀培誠 , HO, PEI CHENG , 何貫睿 , HO, KUAN JUI , 鍾雙兆 , CHUNG, SHUANG CHAO , 范植訓 , FAN, CHIH HSUN , 陳治誠 , CHEN, JYH CHERN
- 申请人： 臺醫光電科技股份有限公司 , TAIWAN BIOPHOTONIC CORPORATION
- 申请人地址： 新竹縣
- 专利权人： 臺醫光電科技股份有限公司,TAIWAN BIOPHOTONIC CORPORATION
- 当前专利权人： 臺醫光電科技股份有限公司,TAIWAN BIOPHOTONIC CORPORATION
- 当前专利权人地址： 新竹縣
- 代理人： 張淑貞
- 优先权： 62/146381 20150412
- 主分类号： G01N21/84
- IPC分类号： G01N21/84
摘要：
本發明是關於對位裝置、以及對位的方法。該對位裝置提供了將該對位裝置對位於被分析物用以測量被分析物的光學特性的光學架構。該對位方法提供了將一光學檢測裝置對位的步驟。
摘要（中）：
本发明是关于对位设备、以及对位的方法。该对位设备提供了将该对位设备对位于被分析物用以测量被分析物的光学特性的光学架构。该对位方法提供了将一光学检测设备对位的步骤。
摘要（英）：
The present disclosure generally relates to a device and a method for alignment. The alignment device provides optical architecture to align the alignment device to an analyte and measure the optical properties of an analyte. The method for alignment provides steps for aligning an optical measurement device to an analyte.
公开/授权文献:
- TWI597488B 對位裝置及對位方法 公开/授权日：2017-09-01
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N21/00 | 利用光学手段，即利用红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料 |
| --------G01N21/84 | .专用于特殊应用的系统 |