基本信息:
- 专利标题： 單一可現場規劃閘陣列中多排組數位刺激響應之技術
- 专利标题（英）：Multi-bank digital stimulus response in a single field programmable gate array
- 专利标题（中）：单一可现场规划闸数组中多排组数码刺激响应之技术
- 申请号：TW104111788 申请日：2015-04-13
- 公开(公告)号：TW201600868A 公开(公告)日：2016-01-01
- 发明人： 吉爾福德 約翰H , GUILFORD, JOHN H. , 卡斯卡特 吉德蓋特A , CATHCART, GIDGET A. , 慕勒 約瑟夫E , MUELLER, JOSEPH E. , 希爾 格雷戈里A , HILL, GREGORY A. , 納西索 史帝芬J , NARCISO, STEVEN JOSEPH
- 申请人： 是德科技股份有限公司 , KEYSIGHT TECHNOLOGIES, INC.
- 专利权人： 是德科技股份有限公司,KEYSIGHT TECHNOLOGIES, INC.
- 当前专利权人： 是德科技股份有限公司,KEYSIGHT TECHNOLOGIES, INC.
- 代理人： 惲軼群; 陳文郎
- 优先权： 14/266,243 20140430
- 主分类号： G01R31/28
- IPC分类号： G01R31/28 ; G01R31/319
摘要：
本發明提供一種經由多個資料傳送排組在一記憶體與一受測器件(DUT)之間移動刺激資料及響應資料的裝置。在一第一模式下，該等資料傳送排組將該刺激資料作為串列刺激資料通道之各別獨立排組輸出至該DUT，且響應於作為來自該DUT之串列資料通道之各別獨立排組提供的資料而將該響應資料寫入至該記憶體中。在一第二模式下，該等資料傳送排組將該刺激資料作為經組合串列刺激資料通道之一單一排組輸出至該DUT，且響應於作為來自該DUT之串列資料通道之一單一組合排組提供的該資料而將該響應資料寫入至該記憶體中。
摘要（中）：
本发明提供一种经由多个数据发送排组在一内存与一受测器件(DUT)之间移动刺激数据及响应数据的设备。在一第一模式下，该等数据发送排组将该刺激数据作为串行刺激数据信道之各别独立排组输出至该DUT，且响应于作为来自该DUT之串行数据信道之各别独立排组提供的数据而将该响应数据写入至该内存中。在一第二模式下，该等数据发送排组将该刺激数据作为经组合串行刺激数据信道之一单一排组输出至该DUT，且响应于作为来自该DUT之串行数据信道之一单一组合排组提供的该数据而将该响应数据写入至该内存中。
摘要（英）：
An apparatus that moves stimulus data and response data between a memory and a device under test (DUT) over a plurality of data transfer banks. In a first mode the data transfer banks output the stimulus data to the DUT as respective independent banks of serial stimulus data channels, and write the response data into the memory responsive to data provided as respective independent banks of channels of serial data from the DUT. In a second mode the data transfer banks output the stimulus data to the DUT as a single bank of combined serial stimulus data channels, and write the response data into the memory responsive to the data provided as a combined single bank of channels of serial data from the DUT.
公开/授权文献:
- TWI682184B 單一可現場規劃閘陣列中多排組數位刺激響應之技術 公开/授权日：2020-01-11
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |
| --------G01R31/28 | .电路的测试，例如用信号故障寻测器 |