基本信息:
- 专利标题： 連接電阻與電容分析的系統與方法
- 专利标题（英）：Systems and methods for coupling resistance and capacitance analysis
- 专利标题（中）：连接电阻与电容分析的系统与方法
- 申请号：TW101126523 申请日：2012-07-23
- 公开(公告)号：TW201323900A 公开(公告)日：2013-06-16
- 发明人： 波普 渥奇區 賈各 , POPPE, WOJCIECH JAKUB , 艾爾金 伊萊斯 , ELKIN, ILYAS , 嘉普塔 普尼特 , GUPTA, PUNEET
- 申请人： 輝達公司 , NVIDIA CORPORATION
- 专利权人： 輝達公司,NVIDIA CORPORATION
- 当前专利权人： 輝達公司,NVIDIA CORPORATION
- 代理人： 蔡玉玲
- 优先权： 61/511,021 20110722;61/512,362 20110727;61/513,508 20110729;13/528,725 20120620
- 主分类号： G01R31/28
- IPC分类号： G01R31/28
The described systems and methods can facilitate examination of device parameters including analysis of relatively dominant characteristic impacts on delays. In one embodiment, at least some coupling components (e.g., metal layer wires, traces, lines, etc.) have a relatively dominate impact on delays and the delay is in part a function of both capacitance and resistance of the coupling component. In one embodiment, a system comprises a plurality of dominate characteristic oscillating rings, wherein each respective one of the plurality of dominate characteristic oscillating rings includes a respective dominate characteristic. Additional analysis can be performed correlating the dominate characteristic delay impact results with device fabrication and operation.
公开/授权文献:
- TWI592674B 連接電阻與電容分析的系統與方法 公开/授权日：2017-07-21
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |
| --------G01R31/28 | .电路的测试，例如用信号故障寻测器 |