基本信息:
- 专利标题： 디스플레이 유닛의 이물 검사 시스템
- 专利标题（英）：KR102233918B1 - System for inspecting foreign matter of display unit
- 申请号：KR1020180072249 申请日：2018-06-22
- 公开(公告)号：KR102233918B1 公开(公告)日：2021-03-30
- 发明人： 이범석 , 김찬수 , 장응진 , 백성현 , 임유진
- 申请人： 주식회사 엘지화학
- 申请人地址： , Yeoui-daero, Yeong...
- 专利权人： 주식회사 엘지화학
- 当前专利权人： 주식회사 엘지화학
- 当前专利权人地址： , Yeoui-daero, Yeong...
- 代理人： 특허법인 피씨알
- 主分类号： G01N21/95
- IPC分类号： G01N21/95 ; G01N21/55 ; G01N21/94 ; G02B5/30
摘要：
본발명의실시예는유기발광디스플레이패널을구비하는디스플레이유닛에입사광을제공하는조명유닛; 및입사광이디스플레이유닛으로부터반사되어제공되는반사광을제공받아디스플레이유닛의이물유입여부를검출하는이물검출부를포함하는디스플레이유닛의이물검사시스템을제공한다.
摘要（英）：
An embodiment of the present invention is a lighting unit for providing incident light to a display unit having an organic light emitting display panel; And a foreign material detection unit configured to detect whether a foreign material flows into the display unit by receiving reflected light provided by the incident light being reflected from the display unit.
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N21/00 | 利用光学手段，即利用红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料 |
| --------G01N21/01 | .便于进行光学测试的装置或仪器 |
| ----------G01N21/88 | ..测试瑕疵、缺陷或污点的存在 |
| ------------G01N21/95 | ...特征在于待测物品的材料或形状 |