基本信息:
- 专利标题： 태양전지 PID특성측정장치
- 专利标题（英）：PIDApparatus for detecting the potential induced degradation of solar cell
- 申请号：KR1020180146578 申请日：2018-11-23
- 公开(公告)号：KR102210367B1 公开(公告)日：2021-02-01
- 发明人： 천성일 , 오경석 , 김동환 , 배수현
- 申请人： 한국전자기술연구원 , 고려대학교 산학협력단
- 申请人地址： 경기도 성남시 분당구...
- 专利权人： 한국전자기술연구원,고려대학교 산학협력단
- 当前专利权人： 한국전자기술연구원,고려대학교 산학협력단
- 当前专利权人地址： 경기도 성남시 분당구...
- 代理人： 남충우
- 主分类号： H01L31/18
- IPC分类号： H01L31/18 ; G01R31/12 ; H01L31/05
摘要：
보다정확한 PID 특성측정이가능한태양전지 PID특성측정장치가제안된다. 본발명에따른태양전지 PID특성측정장치는태양전지가안착되는안착부; 태양전지에기체상태의기체오염물질을공급하는오염물질공급부; 태양전지를가열하는가열부; 안착부에전압을인가하여 PID현상을유발하는전압인가부; 및태양전지의 PID특성을측정하는 PID특성측정부;를포함한다.
摘要（英）：
Proposed is an apparatus for measuring PID of a photovoltaic cell capable of more accurate PID measurement. According to the present invention, the apparatus comprises: a seating unit on which a photovoltaic cell is seated; a pollutant supply unit supplying gaseous pollutants in a gaseous state to the photovoltaic cell; a heating unit heating the photovoltaic cell; a voltage application unit causing a PID phenomenon by applying a voltage to the seating unit; and a PID measuring unit measuring PID of the photovoltaic cell.