基本信息:
- 专利标题： 기판의 에지 검사장치 및 이를 이용한 검사방법
- 专利标题（英）：apparatus for inspecting glass edge and method for inspecting glass edge using thereof
- 专利标题（中）：用于检查玻璃边缘的装置和使用其检查玻璃边缘的方法
- 申请号：KR1020140012739 申请日：2014-02-04
- 公开(公告)号：KR1020150091920A 公开(公告)日：2015-08-12
- 发明人： 강민구 , 이현민
- 申请人： (주) 인텍플러스
- 申请人地址： 대전광역시 유성구 테크노*로 *** (탑립동)
- 专利权人： (주) 인텍플러스
- 当前专利权人： (주) 인텍플러스
- 当前专利权人地址： 대전광역시 유성구 테크노*로 *** (탑립동)
- 代理人： 특허법인 신지
- 主分类号： G01N21/958
- IPC分类号： G01N21/958 ; G01B11/24
본 발명은 글래스 기판의 상부에 설치되어 상기 글래스 기판이 상면의 에지(edge)에 빛을 조사하는 제1 조명수단과, 상기 글래스 기판의 상부에 설치되어 상기 글래스 기판의 상면의 에지의 이미지를 획득하는 제1 촬영수단과, 상기 글래스 기판의 하부에 설치되어 상기 글래스 기판의 하면의 에지에 빛을 조사하는 제2 조명수단과, 상기 글래스 기판의 하부에 설치되어 상기 글래스 기판의 하면의 에지의 이미지를 획득하는 제2 촬영수단을 포함하는 글래스 기판의 에지 검사장치 및 이를 이용한 검사방법에 관한 것이다.
The present invention is a test method is disclosed optically edge inspection apparatus for inspecting a substrate for defects in the edge portions of the substrate and using the same in the top and bottom of the substrate.
The present invention is installed on the upper portion of the glass substrate is installed on top of the first illumination means, the glass substrate for irradiating light to the edge (edge) of the glass substrate top surface acquiring an image of an edge of an upper surface of the glass substrate first recording means, is installed on the lower surface of the glass substrate is provided at the lower part of the second illumination means, and the glass substrate for irradiating light to the edge of the lower surface of the glass substrate image of an edge of a lower surface of the glass substrate that the second edge of the glass substrate inspection apparatus including a photographing means and to a test method using the same for obtaining a.
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N21/00 | 利用光学手段，即利用红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料 |
| --------G01N21/01 | .便于进行光学测试的装置或仪器 |
| ----------G01N21/88 | ..测试瑕疵、缺陷或污点的存在 |
| ------------G01N21/95 | ...特征在于待测物品的材料或形状 |
| --------------G01N21/958 | ....检测透明材料 |