基本信息:
- 专利标题： 랜덤성 테스트 장치 및 방법
- 专利标题（英）：Apparatus and method for testing randomness
- 专利标题（中）：用于测试随机性的装置和方法
- 申请号：KR1020140095917 申请日：2014-07-28
- 公开(公告)号：KR1020150013091A 公开(公告)日：2015-02-04
- 发明人： 김동규 , 최병덕 , 지광현
- 申请人： (주) 아이씨티케이
- 申请人地址： 경기도 성남시 분당구 판교로 *** , *층, *층(삼평동, 투썬벤처포럼빌딩)
- 专利权人： (주) 아이씨티케이
- 当前专利权人： (주) 아이씨티케이
- 当前专利权人地址： 경기도 성남시 분당구 판교로 *** , *층, *층(삼평동, 투썬벤처포럼빌딩)
- 代理人： 특허법인 무한
- 优先权： KR1020130088696 2013-07-26
- 主分类号： G06F11/27
- IPC分类号： G06F11/27
摘要：
랜덤성 테스트 장치가 개시된다. 일 실시 예에 의한 랜덤성 테스트 장치는, PUF(Physically Unclonable Function) 기반 하드웨어에 대하여 랜덤성 테스트를 수행하는 랜덤성 테스트 모듈 및 상기 랜덤성 테스트 수행 결과에 기초하여 상기 PUF 기반 하드웨어의 불량 여부를 결정하는 처리 장치를 포함한다.
摘要（中）：
公开了一种用于测试随机性的装置。 根据实施例，用于测试随机性的装置包括：随机性测试模块，被配置为对基于物理不可克隆功能（PUF）的硬件执行随机性测试;以及处理设备，被配置为基于基于 随机性测试结果。 本公开的各种实施例提供了一种用于测试随机性的装置和方法，其能够测试基于PUF的硬件的随机性。
摘要（英）：
The randomness of the test apparatus. Randomness test apparatus according to one embodiment, PUF (Physically Unclonable Function) determining defective whether the PUF-based hardware based on the randomness of the test module, and performs the randomness test results of performing the randomness test with respect to the underlying hardware and a processing apparatus.