基本信息:
- 专利标题： 레이저 장치를 교정하기 위한 테스트 장치
- 专利标题（英）：Test device for calibrating a laser device
- 专利标题（中）：用于校准激光器件的测试装置
- 申请号：KR1020147019398 申请日：2011-12-13
- 公开(公告)号：KR1020140109957A 公开(公告)日：2014-09-16
- 发明人： 구스에비 , 도니츠키크리스토프 , 부엘르너크리스티안
- 申请人： 웨이브라이트 게엠베하
- 申请人地址： Am Wolfsmantel *, ***** Erlangen, Fed. Red. of Germany
- 专利权人： 웨이브라이트 게엠베하
- 当前专利权人： 웨이브라이트 게엠베하
- 当前专利权人地址： Am Wolfsmantel *, ***** Erlangen, Fed. Red. of Germany
- 代理人： 특허법인 남앤드남
- 国际申请： PCT/EP2011/006284 2011-12-13
- 国际公布： WO2013087080 2013-06-20
- 主分类号： A61F9/008
- IPC分类号： A61F9/008 ; A61B18/20 ; A61M1/00 ; B23K26/02
摘要：
펄스형 레이저 방사선을 제공하는 레이저 장치(12)의 펄스 에너지를 교정하기 위한 테스트 장치는 다수의 측정 탐침(30)을 갖는 측정 헤드(20)를 포함한다. 테스트 장치는 레이저 방사선에 의해 다수의 테스트 절제가 측정 탐침의 상대적인 공간 배치에 대응하는 배치로 테스트 표면(28)상에서 이루어지고 그후 테스트 절제의 깊이가 측정 헤드의 다수의 측정 탐침의 동시적인 사용에 의해 측정되는 방식으로 사용된다.
摘要（英）：
Test device for correcting the pulse energy of the laser device 12 to provide a pulsed laser radiation comprises a measuring head 20 having a plurality of measurement probes (30). Test apparatus by a plurality of simultaneous use of the measurement probe of being made on the test surface 28, a plurality of test ablation is to place corresponding to the relative space in the measurement probe arranged thereafter the depth of the test ablation measuring head by the laser radiation which it is used as a measurement method.
公开/授权文献:
- KR101636006B1 레이저 장치를 교정하기 위한 테스트 장치 公开/授权日：2016-07-04