基本信息:
- 专利标题： 변형률 측정 센서를 이용한 구조물의 비틀림 측정 방법 및 시스템
- 专利标题（英）：Measurement method and system for the torsion of the structure using strain sensors
- 专利标题（中）：使用应变传感器扭转结构的测量方法和系统
- 申请号：KR1020100027693 申请日：2010-03-29
- 公开(公告)号：KR1020110108484A 公开(公告)日：2011-10-06
- 发明人： 한재흥 , 강래형 , 김홍일
- 申请人： 한국과학기술원
- 申请人地址： 대전광역시 유성구 대학로 ***(구성동)
- 专利权人： 한국과학기술원
- 当前专利权人： 한국과학기술원
- 当前专利权人地址： 대전광역시 유성구 대학로 ***(구성동)
- 代理人： 김종관; 권오식; 박창희
- 主分类号： G01B21/32
- IPC分类号： G01B21/32 ; G01B7/16 ; G01B11/16
摘要：
본 발명은 구조물의 변형률을 측정하여 구조물의 비틀림을 측정하는 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 구조물의 비틀림 변형-변형률 관계를 획득하고, 구조물의 적어도 하나의 지점에 변형률 측정 센서를 부착하여, 부착된 센서로부터 취득된 변형률 신호를 이용하여, 구조물의 비틀림 정도를 측정하는 방법에 관한 것이다.
본 발명에 따르면 변형률 측정 센서를 이용하여 구조물의 연속된 정적 및 동적 비틀림을 측정할 수 있으므로 비틀림 변형이 중요한 구조물의 건정성을 경제적으로 모니터링할 수 있다는 점에 효과가 있다.
摘要（英）：
본 발명에 따르면 변형률 측정 센서를 이용하여 구조물의 연속된 정적 및 동적 비틀림을 측정할 수 있으므로 비틀림 변형이 중요한 구조물의 건정성을 경제적으로 모니터링할 수 있다는 점에 효과가 있다.
The present invention, the torsional deformation of the structure in more detail relates to a method to measure the strain of the structure for measuring a torsion of a structure-obtained strain relationship, and to attach the strain sensor to the at least one point of the structure, the attachment using the signal obtained from the strain sensor, to a method for measuring the torsion degree of the structure.
It may, according to the present invention using a strain-measuring sensor to measure a series of static and dynamic distortion of the structure there is an effect in that the torsional deformation be economically monitoring the soundness of the key structure.
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01B | 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 |
| ------G01B21/00 | 不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件 |
| --------G01B21/32 | .用于计量固体的变形 |