基本信息:
- 专利标题： 디지털 Ｘ선 디텍터의 제작 공정 검사 장치 및 방법
- 专利标题（英）：Apparatus and method for checking for making process of digital x-ray detector
- 专利标题（中）：用于检查数字X射线探测器制作过程的装置和方法
- 申请号：KR1020090114041 申请日：2009-11-24
- 公开(公告)号：KR1020110057579A 公开(公告)日：2011-06-01
- 发明人： 김미숙 , 김형준 , 신철우 , 윤정기
- 申请人： 주식회사 디알텍
- 申请人地址： 경기도 성남시 중원구 둔촌대로***번길 ** (상대원동)
- 专利权人： 주식회사 디알텍
- 当前专利权人： 주식회사 디알텍
- 当前专利权人地址： 경기도 성남시 중원구 둔촌대로***번길 ** (상대원동)
- 代理人： 특허법인 신지; 유경열
- 主分类号： G01N21/958
- IPC分类号： G01N21/958 ; H01L21/66
摘要：
PURPOSE: An apparatus and a method for checking the manufacturing process of a digital x-ray detector are provided to check foremgin materials between a TFT substrate and a photoconductive layer in detail. CONSTITUTION: An apparatus for checking the manufacturing process of a digital x-ray detector comprises a visible light irradiation unit(10), a transmitted light irradiation unit(20), and a light receiving unit(30). The visible light irradiation unit irradiates visible light to one surface of a substrate(45). The transmitted light irradiation unit irradiates light passing through a photoconductive layer(40) to the other surface of the substrate. The light receiving unit collects the visible light and the light passing through the photoconductive layer.
摘要（中）：
目的：提供一种用于检查数字X射线检测器的制造过程的装置和方法，以详细检查TFT基板和光电导层之间的材料。 构成：用于检查数字X射线检测器的制造过程的装置，包括可见光照射单元（10），透射光照射单元（20）和光接收单元（30）。 可见光照射单元将可见光照射到基板（45）的一个表面。 透射光照射部将通过光电导层（40）的光照射到基板的另一面。 光接收单元收集可见光和通过光电导层的光。
公开/授权文献:
- KR101108706B1 디지털 Ｘ선 디텍터의 제작 공정 검사 장치 및 방법 公开/授权日：2012-01-30
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N21/00 | 利用光学手段，即利用红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料 |
| --------G01N21/01 | .便于进行光学测试的装置或仪器 |
| ----------G01N21/88 | ..测试瑕疵、缺陷或污点的存在 |
| ------------G01N21/95 | ...特征在于待测物品的材料或形状 |
| --------------G01N21/958 | ....检测透明材料 |