基本信息:
- 专利标题： 고체 촬상 장치 및 Ｘ선 검사 시스템
- 专利标题（英）：Solid-state image pickup apparatus and x-ray inspection system
- 专利标题（中）：固态图像拾取装置和X射线检测系统
- 申请号：KR1020107015106 申请日：2009-04-22
- 公开(公告)号：KR1020100135705A 公开(公告)日：2010-12-27
- 发明人： 모리하루미치 , 규시마류지 , 후지타가즈키
- 申请人： 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤
- 申请人地址： ****-*, Ichino-cho, Higashi-ku, Hamamatsu-shi, Shizuoka, Japan
- 专利权人： 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤
- 当前专利权人： 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤
- 当前专利权人地址： ****-*, Ichino-cho, Higashi-ku, Hamamatsu-shi, Shizuoka, Japan
- 代理人： 특허법인태평양
- 优先权： JPJP-P-2008-114214 2008-04-24
- 国际申请： PCT/JP2009/058006 2009-04-22
- 国际公布： WO2009131153 2009-10-29
- 主分类号： H04N5/335
- IPC分类号： H04N5/335 ; H04N5/32
1,1 ∼P
M,N )가 M행 N열로 배열되어 있다. 제1 촬상 모드시, 수광부(10A)에 있어서 M×N개의 화소부 각각의 포토다이오드에서 발생한 전하의 양에 따른 전압값이 신호 독출부(20)로부터 출력된다. 제2 촬상 모드시, 수광부(10A)에 있어서 연속하는 M
1 행에 포함되는 각 화소부의 포토다이오드에서 발생한 전하의 양에 따른 전압값이 신호 독출부(20)로부터 출력된다. 제1 촬상 모드시에 비해, 제2 촬상 모드시에, 프레임 데이터에 있어서 독출 화소 피치가 작고, 프레임 레이트가 빠르고, 신호 독출부(20)에 있어서 입력 전하량에 대한 출력 전압값의 비율인 게인이 크다.
The solid-state imaging device (1A) is provided with a light receiving unit such as (10A) and a signal reading unit 20. FIG. Light receiving portion (10A) of the M × N pixel units (P
M ~P
1,1, N) are arranged M rows N columns. Voltage value corresponding to the amount of charges generated in the M × N pixel portions each photodiode is output from the signal reading unit 20 in the first imaging mode, the light receiving portion (10A). It is output from the second imaging mode, the light receiving portion (10A), a voltage value signal reading unit 20 according to the amount of charges generated in each pixel portion photodiode included in consecutive M
1 rows in the. Compared to when the first imaging mode, and the second during the imaging mode, the ratio of the gain of the output voltage value of the input charge amount in the frame data is read pixel pitch is small in, the frame rate is fast, the signal reading unit 20 is Big.
公开/授权文献:
- KR101598233B1 고체 촬상 장치 및 Ｘ선 검사 시스템 公开/授权日：2016-02-26