基本信息:
- 专利标题： 시스템 온-칩에서의 내장 코아를 테스트하기 위한 방법 및 구조
- 专利标题（英）：Method and structure for testing embedded cores based system-on-a-chip
- 专利标题（中）：基于嵌入式系统的片上系统芯片测试方法与结构
- 申请号：KR1019990047027 申请日：1999-10-28
- 公开(公告)号：KR1020000029368A 公开(公告)日：2000-05-25
- 发明人： 레지슈맨로취트 , 야모또히로아끼
- 申请人： 어드밴테스트 코포레이션
- 申请人地址： *-**-* Asahi-cho, Nerima-ku, Tokyo, Japan
- 专利权人： 어드밴테스트 코포레이션
- 当前专利权人： 어드밴테스트 코포레이션
- 当前专利权人地址： *-**-* Asahi-cho, Nerima-ku, Tokyo, Japan
- 代理人： 장수길; 구영창
- 优先权： US09/183,033 1998-10-30
- 主分类号： G01R31/28
- IPC分类号： G01R31/28
摘要：
PURPOSE: A method and a structure for testing SoC IC(system-on-chip IC) based on embedded cores are provided to test the embedded cores without increasing hardwares substantially within the SoC IC. CONSTITUTION: Embedded cores of SoC IC have a micro processor core(10), memory core(3), and other functional cores(5, 6, 7). A plurality of register are provided to test the micro processor. The micro processor is tested by performing a demand of the micro processor with pseudo random data several times and evaluating the results by means of comparing with simulation results. A test program is applied to the micro processor to generate memory test pattern in the micro processor core(10). The memory test pattern is applied to the memory core(3) and respondence from the memory core(3) is evaluated in the micro processor. A function specific test program is applied to the other functional cores(5, 6, 7) and the other functional cores(5, 6, 7) are evaluated by evaluating the output signal of the other functional cores(5, 6, 7) in the micro processor.
摘要（中）：
目的：提供一种基于嵌入式核心的SoC IC（片上系统集成电路）测试方法和结构，可以在不增加SoC IC内部硬件的情况下对嵌入式内核进行测试。 构成：SoC IC的嵌入式内核具有微处理器核心（10），内存核心（3）和其他功能核心（5,6,7）。 提供多个寄存器来测试微处理器。 微处理器通过几次伪随机数据执行微处理器的需求进行测试，并通过与仿真结果进行比较来评估结果。 将测试程序应用于微处理器以在微处理器核心（10）中产生存储器测试模式。 存储器测试图案被应用于存储器核心（3），并且在微处理器中评估来自存储器核心（3）的响应。 通过评估其他功能核心（5,6,7）的输出信号，对功能核心（5,6,7）应用功能特定测试程序，并且评估其它功能核心（5,6,7） 在微处理器中。
公开/授权文献:
- KR100502128B1 시스템 온-칩에서의 내장 코아를 테스트하기 위한 방법 및 구조 公开/授权日：2005-07-19
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |
| --------G01R31/28 | .电路的测试，例如用信号故障寻测器 |