基本信息:
- 专利标题： 트랜지스터 또는 반도체 장치를 시뮬레이팅할 수 있는 회로 및 포락선 검출기
- 专利标题（英）：Simulated transistor/diode
- 专利标题（中）：能够模拟晶体管或半导体器件的电路和包络检测器
- 申请号：KR1019850007339 申请日：1985-10-05
- 公开(公告)号：KR1019950000432B1 公开(公告)日：1995-01-19
- 发明人： 요한헨드릭휴징 , 티모시알란듀이베테르
- 申请人： 코닌클리케 필립스 엔.브이.
- 申请人地址： High Tech Campus *, **** AE Eindhoven, The Netherlands
- 专利权人： 코닌클리케 필립스 엔.브이.
- 当前专利权人： 코닌클리케 필립스 엔.브이.
- 当前专利权人地址： High Tech Campus *, **** AE Eindhoven, The Netherlands
- 代理人： 이병호
- 优先权： US658, 333 1984-10-05
- 主分类号： H03D1/18
- IPC分类号： H03D1/18
摘要：
내용 없음.
摘要（英）：
No information.
公开/授权文献:
- KR100083977B1 트랜지스터 또는 반도체 장치를 시뮬레이팅할 수 있는 회로 및 포락선 검출기 公开/授权日：1995-04-13