基本信息:
- 专利标题： 광-검출 시스템
- 专利标题（英）：Light-detection systems
- 专利标题（中）：- 检测系统
- 申请号：KR1020137029774 申请日：2011-04-20
- 公开(公告)号：KR101561131B1 公开(公告)日：2015-10-16
- 发明人： 파탈데이비드에이. , 하트웰피터조지 , 뷰솔레일레이몬드쥐. , 파라온안드레이
- 申请人： 휴렛-팩커드 디벨롭먼트 컴퍼니, 엘.피.
- 申请人地址： ***** Compaq Center Drive West, Houston, TX *****, United States of America
- 专利权人： 휴렛-팩커드 디벨롭먼트 컴퍼니, 엘.피.
- 当前专利权人： 휴렛-팩커드 디벨롭먼트 컴퍼니, 엘.피.
- 当前专利权人地址： ***** Compaq Center Drive West, Houston, TX *****, United States of America
- 代理人： 유미특허법인
- 国际申请： PCT/US2011/033287 2011-04-20
- 国际公布： WO2012144996 2012-10-26
- 主分类号： G01J1/02
- IPC分类号： G01J1/02 ; G01J1/04
摘要：
검출될광을파괴시키거나광의전파방향을변경시키지않는광-검출시스템이기술된다. 일양태에서, 광-검출시스템은, 평면표면을가지는기판, 및평면표면으로부터연장하는포스트로이루어진분극둔감성, 고콘트라스트, 서브-파장격자로구성된광학엘리먼트를포함한다. 포스트들및/또는포스트들의격자배치는비주기적으로변동되어궤도각 운동량및 적어도하나의나선파면을상기광학엘리먼트를통하여송출된광에전해준다.
摘要（英）：
Light to destroy the light to be detected, or that do not change the direction of light propagation - the detection system is described. In one aspect, the light-detection system, polarization insensitivity, high contrast, sub consisting of posts extending from a substrate, and a flat surface having a plane surface comprises an optical element consisting of a wavelength grid. The posts and / or the grid arrangement of the posts allows variation aperiodically around the light transmitted through the orbital angular momentum and the at least one spiral element for the optical wave front.
公开/授权文献:
- KR1020130137712A 광-검출 시스템 公开/授权日：2013-12-17
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01J | 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法 |
| ------G01J1/00 | 光度测定法，例如照相的曝光表 |
| --------G01J1/02 | .零部件 |