基本信息:
- 专利标题: 전계 효과형 트랜지스터, 그의 제조 방법 및 스퍼터링 타겟
- 专利标题(英):Field-effect transistor, method for manufacturing same, and sputtering target
- 专利标题(中):场效应晶体管,其制造方法以及溅射靶材
- 申请号:KR1020117004656 申请日:2009-08-26
- 公开(公告)号:KR101516050B1 公开(公告)日:2015-05-04
- 发明人: 야노고키 , 가와시마히로카즈 , 이노우에가즈요시
- 申请人: 이데미쓰 고산 가부시키가이샤
- 申请人地址: 일본 도쿄도 지요다쿠 마루노우치 *쵸메 *반 *고
- 专利权人: 이데미쓰 고산 가부시키가이샤
- 当前专利权人: 이데미쓰 고산 가부시키가이샤
- 当前专利权人地址: 일본 도쿄도 지요다쿠 마루노우치 *쵸메 *반 *고
- 代理人: 제일특허법인
- 优先权: JPJP-P-2008-218054 2008-08-27
- 国际申请: PCT/JP2009/004113 2009-08-26
- 国际公布: WO2010023889 2010-03-04
- 主分类号: H01L29/786
- IPC分类号: H01L29/786 ; H01L21/336
On a substrate, and at least a gate electrode, a gate insulating film, a semiconductor layer, a semiconductor layer protective layer, and has a source electrode and a drain electrode, and a source electrode and a drain electrode is connected via the semiconductor layer, a gate electrode and a gate insulating film and between the semiconductor layer and has a protective layer on at least one surface side of the semiconductor layer, and a semiconductor layer oxide containing in atom and Sn atom and a Zn atom, which is represented by Zn / (in + Sn + Zn) the atomic composition ratio of 25 atomic% to 75 atomic% or less, Sn / field-effect transistor characterized in that the atomic composition ratio is less than 50 atomic% is represented by (in + Sn + Zn).
公开/授权文献:
- KR1020110053978A 전계 효과형 트랜지스터, 그의 제조 방법 및 스퍼터링 타겟 公开/授权日:2011-05-24
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
H | 电学 |
--H01 | 基本电气元件 |
----H01L | 半导体器件;其他类目未包含的电固体器件 |
------H01L29/00 | 专门适用于整流、放大、振荡或切换,并具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的半导体器件;具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒,例如PN结耗尽层或载流子集结层的电容器或电阻器;半导体本体或其电极的零部件 |
--------H01L29/02 | .按其半导体本体的特征区分的 |
----------H01L29/68 | ..只能通过对一个不通有待整流、放大或切换的电流的电极供给电流或施加电位方可进行控制的 |
------------H01L29/70 | ...双极器件 |
--------------H01L29/762 | ....电荷转移器件 |
----------------H01L29/78 | .....由绝缘栅产生场效应的 |
------------------H01L29/786 | ......薄膜晶体管 |