基本信息:
- 专利标题： 재료의 미세 변화 측정 방법 및 시스템
- 专利标题（英）：Method For Measuring Minute Structural Change of Material and System Thereof
- 专利标题（中）：测量材料和系统的分钟结构变化的方法
- 申请号：KR1020120138235 申请日：2012-11-30
- 公开(公告)号：KR101420092B1 公开(公告)日：2014-07-21
- 发明人： 송성진 , 강토 , 박정원 , 이택규 , 황영인 , 김학준 , 장지안하이
- 申请人： 성균관대학교산학협력단
- 申请人地址： 경기도 수원시 장안구 서부로 **** (천천동, 성균관대학교내)
- 专利权人： 성균관대학교산학협력단
- 当前专利权人： 성균관대학교산학협력단
- 当前专利权人地址： 경기도 수원시 장안구 서부로 **** (천천동, 성균관대학교내)
- 代理人： 조영현; 나승택
- 主分类号： G01B7/16
- IPC分类号： G01B7/16
摘要：
본 발명에 따른 재료의 미세 변화 측정 방법은 피검사 재료에 제1 압축 응력을 제공하는 단계, 상기 재료에 제1 압축 응력이 제공된 상태에서 주파수가 다른 교류신호들을 입력하면서 상기 재료에서 출력되는 전기 임피던스를 측정하는 단계, 및 출력된 전기 임피던스를 분석하여 상기 재료의 미세 변화 여부를 결정하는 분석 단계를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 한다.
摘要（英）：
Minimal change the method of material according to the present invention is electrical impedance output from the material and the frequency enters the other AC signal while the first compressive stress is provided in step, it said material providing a first compressive stress to the blood test material analyzing step, and an output for measuring the electrical impedance to be characterized in that comprising an analysis step to determine whether or not minimal change of the material.
公开/授权文献:
- KR1020140070930A 재료의 미세 변화 측정 방법 및 시스템 公开/授权日：2014-06-11
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01B | 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 |
| ------G01B7/00 | 以采用电或磁的方法为特征的计量设备 |
| --------G01B7/16 | .用于计量固体的变形，例如电阻应变仪 |