基本信息:
- 专利标题： 라운드형의 프로브 탑 제조방법
- 专利标题（英）：Method for manufacturing Round type Probe Top
- 专利标题（中）：圆形探头顶部制造方法
- 申请号：KR1020110125240 申请日：2011-11-28
- 公开(公告)号：KR101321183B1 公开(公告)日：2013-10-23
- 发明人： 유상용 , 김선경 , 김석 , 봉은희
- 申请人： 삼성전기주식회사
- 申请人地址： Maeyoung-Ro *** (Maetan-Dong), Youngtong-Gu, Suwon-Si, Gyeonggi-Do, Republic of Korea
- 专利权人： 삼성전기주식회사
- 当前专利权人： 삼성전기주식회사
- 当前专利权人地址： Maeyoung-Ro *** (Maetan-Dong), Youngtong-Gu, Suwon-Si, Gyeonggi-Do, Republic of Korea
- 代理人： 청운특허법인
- 主分类号： G01R31/28
- IPC分类号： G01R31/28 ; G01R1/067
摘要：
본 발명의 실시예는 라운드형 프로브 탑의 제조방법에 관한 것으로서, 에칭 용액이 담긴 수조를 준비하는 단계; 에칭 용액에 제1 프로브와 제2 프로브의 일부를 침지시키는 단계; 제1 프로브와 제2 프로브에 전기적 연결을 수행하는 단계; 및 제1 프로브 또는 제2 프로브를 제1 조건에 따라 상승 또는 하강시켜 제1 프로브의 탑 및 제2 프로브의 탑을 라운드형으로 가공하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
摘要（英）：
Embodiment of the present invention includes steps of preparing, as a water bath containing the etching solution, a method of manufacturing a round tower-type probe; Step of immersing a portion of the first probe and the second probe in the etching solution; The step of performing electrical connection to the first probe and the second probe; And the top of the first probe or the second probe to the first probe is raised and lowered on top and a second probe in accordance with the first step of machining conditions in a round shape; characterized in that it comprises a.
公开/授权文献:
- KR1020130059103A 라운드형의 프로브 탑 제조방법 公开/授权日：2013-06-05
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |
| --------G01R31/28 | .电路的测试，例如用信号故障寻测器 |