基本信息:
- 专利标题： 비접촉 표면 형상 측정 장치 및 방법
- 专利标题（英）：Non-contact surface configuration measuring apparatus and method thereof
- 专利标题（中）：非接触式表面配置测量装置及其方法
- 申请号：KR1020050003098 申请日：2005-01-13
- 公开(公告)号：KR100594919B1 公开(公告)日：2006-06-30
- 发明人： 나까무라가쯔시게 , 미우라가쯔히로 , 고따지마히데오
- 申请人： 미타카코오키가부시키가이샤
- 申请人地址： 일본국도오쿄오토미타카시오오사와*죠오메*-*
- 专利权人： 미타카코오키가부시키가이샤
- 当前专利权人： 미타카코오키가부시키가이샤
- 当前专利权人地址： 일본국도오쿄오토미타카시오오사와*죠오메*-*
- 代理人： 성재동; 주성민
- 优先权： JPJP-P-2004-00005389 2004-01-13
- 主分类号： G01B11/24
- IPC分类号： G01B11/24
摘要：
레이저 프로브에 대하여 급준한 각도에 있는 표면의 정확한 측정을 가능하게 하는 비접촉 표면 형상 측정 방법이 제공된다. 특정 영역내의 표면이 ±30°보다 작아지도록 작업편이 회전된 이후, 레이저 프로브에 대해 최적 측정 상태로부터 ±30°이상 경사진 부분을 포함하는 특정 영역이 측정된다. 따라서, 일반 영역의 좌표계와 다른 좌표계에서, 특정 영역상의 정확하게 측정된 데이터가 얻어질 수 있다.
중복 측정, 작업편 회전, 경사각, 특정 영역, 일반 영역, 극 좌표 변환
摘要（英）：
중복 측정, 작업편 회전, 경사각, 특정 영역, 일반 영역, 극 좌표 변환
The non-contact surface configuration measuring method that allows for accurate measurement of the surface that conforms to the grade angle with respect to the laser probe is provided. Since such that the surface within the specific area is smaller than ± 30 ° workpiece is rotated, a certain region including a portion inclined at least ± 30 ° from the optimum measurement state relative to the laser probe is measured. Therefore, in the coordinate system and the coordinate system of the other common area, a specific area on the accurate measured data it can be obtained. Redundant measurement, the workpiece rotate, tilt angle, a particular area, the general area, polar coordinate conversion
公开/授权文献:
- KR1020050074330A 비접촉 표면 형상 측정 장치 및 방법 公开/授权日：2005-07-18
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01B | 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 |
| ------G01B11/00 | 以采用光学方法为特征的计量设备 |
| --------G01B11/24 | .用于计量轮廓或曲率 |