基本信息:
- 专利标题： 形状測定装置及び形状測定方法
- 专利标题（英）：JPWO2018016102A1 - Shape measuring apparatus and a shape measuring method
- 申请号：JP2017001720 申请日：2017-01-19
- 公开(公告)号：JPWO2018016102A1 公开(公告)日：2018-07-19
- 发明人： 赤木 俊夫 , 今野 雄介 , 日比 厚裕 , 古家 順弘 , 園田 貴之 , 中崎 昭仁
- 申请人： 新日鐵住金株式会社
- 申请人地址： 東京都千代田区丸の内二丁目6番1号
- 专利权人： 新日鐵住金株式会社
- 当前专利权人： 新日鐵住金株式会社
- 当前专利权人地址： 東京都千代田区丸の内二丁目6番1号
- 代理人： 亀谷 美明; 金本 哲男; 萩原 康司; 松本 一騎
- 优先权： JP2016141611 2016-07-19
- 主分类号： G01N21/892
- IPC分类号： G01N21/892 ; G01B11/30
To provide a shape measuring apparatus capable of detecting a high speed and small roughness unevenness over the entire full width of the measuring object. Against A surface of the moving strip, screens a light source for irradiating a linear light obliquely from upstream side in the movement direction of the strip, the linear light of the reflected light on the surface of the strip is projected acquiring the an imaging unit for imaging the reflected light of the linear light projected on the screen, based on the width distribution of the light band of the reflected light of the screen projected linear light, the surface roughness profile of the strip comprising a processing unit for, the incident angle of the light source with respect to the strip is set according to a target surface roughness of the strip surface, the shape measuring apparatus is provided. .The
公开/授权文献:
- JP1580806S JP1580806S - 公开/授权日：2017-07-10
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N21/00 | 利用光学手段，即利用红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料 |
| --------G01N21/01 | .便于进行光学测试的装置或仪器 |
| ----------G01N21/88 | ..测试瑕疵、缺陷或污点的存在 |
| ------------G01N21/89 | ...在移动的材料中，例如，纸张、织物中 |
| --------------G01N21/892 | ....特征在于待测的瑕疵、缺陷或物品的特点 |