基本信息:
- 专利标题： 計測システム、計測方法、及び、プログラム
- 申请号：JP2017018620 申请日：2017-05-18
- 公开(公告)号：JPWO2017204066A1 公开(公告)日：2019-04-18
- 发明人： 石田 尚志 , 福司 謙一郎 , 野崎 岳夫
- 申请人： 日本電気株式会社
- 申请人地址： 東京都港区芝五丁目7番1号
- 专利权人： 日本電気株式会社
- 当前专利权人： 日本電気株式会社
- 当前专利权人地址： 東京都港区芝五丁目7番1号
- 代理人： 机 昌彦; 下坂 直樹
- 优先权： JP2016102576 2016-05-23
- 主分类号： A61F2/70
- IPC分类号： A61F2/70 ; B25J11/00 ; A61B5/11 ; A61H3/00
摘要：
連続した動作において、計測対象者における現状の動作状態と、アシストされた動作状態との差異を計測するため、本発明の計測システムは、計測対象者における所定の動作をアシストするアシスト手段と、アシスト手段における計測対象者の動作をアシストするアシスト状態と、動作を拘束しない又はアシスト状態より少ない量をアシストする現状状態とを切り替えるアシスト切替え手段と、アシスト状態及び現状状態における計測対象者の動作の量を計測する状態計測手段とを含む計測装置を含む。
公开/授权文献:
- JP2018123109A 抗菌性部材及びその製造方法 公开/授权日：2018-08-09