基本信息:
- 专利标题:
- 申请号:JP50454897 申请日:1996-06-26
- 公开(公告)号:JPH11509314A 公开(公告)日:1999-08-17
- 优先权: US51895 1995-06-26
- 主分类号: G01N27/62
- IPC分类号: G01N27/62 ; B01J20/281 ; C12Q1/68 ; C40B20/00 ; C40B30/04 ; C40B40/02 ; C40B50/06 ; C40B60/04 ; G01N27/64 ; G01N30/02 ; G01N30/08 ; G01N30/46 ; G01N30/50 ; G01N30/72 ; G01N30/84 ; G01N30/88 ; G01N33/15 ; G01N33/50 ; G01N33/543 ; G01N33/566 ; G01N30/48
公开/授权文献:
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
G | 物理 |
--G01 | 测量;测试 |
----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
------G01N27/00 | 用电、电化学或磁的方法测试或分析材料 |
--------G01N27/62 | .通过测试气体的电离,通过测试放电,例如阴极发射 |