基本信息:
- 专利标题：
- 申请号：JP4091185 申请日：1985-03-01
- 公开(公告)号：JPH067115B2 公开(公告)日：1994-01-26
- 发明人： MIMAKI HIROSHI , ONO NAOYA , SHINDO ISAO , TAKANO NOBUYOSHI
- 申请人： HITACHI LTD
- 专利权人： HITACHI LTD
- 当前专利权人： HITACHI LTD
- 优先权： JP4091185 1985-03-01
- 主分类号： G01N27/27
- IPC分类号： G01N27/27 ; G01N27/28 ; G01N27/416 ; G01N35/08
公开/授权文献:
- JPS61155453U 公开/授权日：1986-09-26
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N27/00 | 用电、电化学或磁的方法测试或分析材料 |
| --------G01N27/02 | .通过测试阻抗 |
| ----------G01N27/27 | ..两个或多个测量系统或单元的组合，每一个测量不同参数，该系统或单元作物理上的连接，其测量结果既可以单独使用，也可以相结合产生另外的参数值 |