基本信息:

• 专利标题： X線検査装置
• 申请号：JP2016042753 申请日：2016-03-04
• 公开(公告)号：JP6861470B2 公开(公告)日：2021-04-21
• 发明人： 諸石 史孝 , 石本 達也 , 徳宮 孝弘
• 申请人： 三星電子株式会社 ,  Samsung Electronics Co.,Ltd.
• 申请人地址： 大韓民国京畿道水原市霊通区三星路129
• 专利权人： 三星電子株式会社,Samsung Electronics Co.,Ltd.
• 当前专利权人： 三星電子株式会社,Samsung Electronics Co.,Ltd.
• 当前专利权人地址： 大韓民国京畿道水原市霊通区三星路129
• 代理人： 阿部 達彦; 実広 信哉; 崔 允辰; 木内 敬二
• 主分类号： G01N23/044
• IPC分类号： G01N23/044 ; G01N23/087 ; G01N23/18

公开/授权文献:

• JP2017156328A  X線検査装置 公开/授权日：2017-09-07

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