基本信息:
- 专利标题: 高空間解像度でサンプル中の構造を局所的に画像化すること
- 申请号:JP2016184831 申请日:2016-09-21
- 公开(公告)号:JP6730895B2 公开(公告)日:2020-07-29
- 发明人: ステファン ダブリュー.ヘル , ファビアン ゴットフェルト , ヴォルカー ウェストファル
- 申请人: マックス−プランク−ゲゼルシャフト ツール フェルデルンク デル ヴィッセンシャフテン エー.ファウ.
- 申请人地址: ドイツ連邦共和国 ミュンヘン 80539 ホフガルテンシュトラーセ 8
- 专利权人: マックス−プランク−ゲゼルシャフト ツール フェルデルンク デル ヴィッセンシャフテン エー.ファウ.
- 当前专利权人: マックス−プランク−ゲゼルシャフト ツール フェルデルンク デル ヴィッセンシャフテン エー.ファウ.
- 当前专利权人地址: ドイツ連邦共和国 ミュンヘン 80539 ホフガルテンシュトラーセ 8
- 代理人: ▲吉▼川 俊雄; 市川 寛奈
- 优先权: DE102015116023.4 2015-09-22 DE102016104100.9 2016-03-07
- 主分类号: G02B21/36
- IPC分类号: G02B21/36 ; G02B21/06 ; G01N21/64
公开/授权文献:
- JP2017072586A 高空間解像度でサンプル中の構造を局所的に画像化すること 公开/授权日:2017-04-13
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
G | 物理 |
--G02 | 光学 |
----G02B | 光学元件、系统或仪器 |
------G02B21/00 | 显微镜 |
--------G02B21/36 | .照相或投影用的布置 |