基本信息:

• 专利标题： 分析チップ及び試料分析装置
• 申请号：JP2016519274 申请日：2015-05-12
• 公开(公告)号：JP6557656B2 公开(公告)日：2019-08-07
• 发明人： 堀 和貴 , 峯岸 保 , 山本 伸也 , 神戸 隆充
• 申请人： タカノ株式会社
• 申请人地址： 長野県上伊那郡宮田村137番地
• 专利权人： タカノ株式会社
• 当前专利权人： タカノ株式会社
• 当前专利权人地址： 長野県上伊那郡宮田村137番地
• 代理人： 正林 真之; 林 一好
• 优先权： JP2014101541 2014-05-15
• 国际申请： JP2015063691 JP 2015-05-12
• 国际公布： WO2015174429 JP 2015-11-19
• 主分类号： G01N37/00
• IPC分类号： G01N37/00 ; G01N35/00 ; G01N35/08

公开/授权文献:

• JPWO2015174429A1  分析チップ及び試料分析装置 公开/授权日：2017-04-20

信息查询: