基本信息:

• 专利标题： 電力補償装置のサブモジュールの性能を試験するための合成試験回路及びその試験方法
• 申请号：JP2017153855 申请日：2017-08-09
• 公开(公告)号：JP6495391B2 公开(公告)日：2019-04-03
• 发明人： チョン ヨン ホ , ペク ソン テク , キム ヨン ウ , イ チン ヘ , ノ ウイ チョル , チョン チェ フン
• 申请人： エルエス産電株式会社 ,  LSIS CO.,LTD. ,  プキョン ナショナル ユニバーシティ インダストリ ユニバーシティ コーポレーション ファウンデーション ,  PUKYONG NATIONAL UNIVERSITY INDUSTRY−UNIVERSITY COOPERATION FOUNDATION
• 申请人地址： 大韓民国京畿道安養市東安区LS路LSタワー127
• 专利权人： エルエス産電株式会社,LSIS CO.,LTD.,プキョン ナショナル ユニバーシティ インダストリ ユニバーシティ コーポレーション ファウンデーション,PUKYONG NATIONAL UNIVERSITY INDUSTRY−UNIVERSITY COOPERATION FOUNDATION
• 当前专利权人： エルエス産電株式会社,LSIS CO.,LTD.,プキョン ナショナル ユニバーシティ インダストリ ユニバーシティ コーポレーション ファウンデーション,PUKYONG NATIONAL UNIVERSITY INDUSTRY−UNIVERSITY COOPERATION FOUNDATION
• 当前专利权人地址： 大韓民国京畿道安養市東安区LS路LSタワー127
• 代理人： 永井 浩之; 中村 行孝; 佐藤 泰和; 朝倉 悟; 関根 毅; 青木 篤; 三橋 真二; 河合 章; 南山 知広; 竹本 実
• 优先权： KR10-2016-0150254 2016-11-11
• 主分类号： G05F1/70
• IPC分类号： G05F1/70 ; G01R31/00

公开/授权文献:

• JP2018077211A  電力補償装置のサブモジュールの性能を試験するための合成試験回路及びその試験方法 公开/授权日：2018-05-17

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