基本信息:
- 专利标题: 分光器装置
- 专利标题(英):JP6265916B2 - Spectrometer apparatus
- 申请号:JP2014558821 申请日:2013-02-21
- 公开(公告)号:JP6265916B2 公开(公告)日:2018-01-24
- 发明人: ジエ バオ , モウンギ ジー. バウエンディ
- 申请人: マサチューセッツ インスティテュート オブ テクノロジー
- 申请人地址: アメリカ合衆国マサチューセッツ州02139ケンブリッジ,マサチューセッツ・アヴェニュー・77
- 专利权人: マサチューセッツ インスティテュート オブ テクノロジー
- 当前专利权人: マサチューセッツ インスティテュート オブ テクノロジー
- 当前专利权人地址: アメリカ合衆国マサチューセッツ州02139ケンブリッジ,マサチューセッツ・アヴェニュー・77
- 代理人: 石川 徹
- 优先权: US61/601,276 2012-02-21 US61/692,231 2012-08-22
- 国际申请: US2013027105 JP 2013-02-21
- 国际公布: WO2013126548 JP 2013-08-29
- 主分类号: G01J3/36
- IPC分类号: G01J3/36
公开/授权文献:
- JP2015518134A 分光器装置 公开/授权日:2015-06-25
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
G | 物理 |
--G01 | 测量;测试 |
----G01J | 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法 |
------G01J3/00 | 光谱测定法;分光光度测定法;单色器;测定颜色 |
--------G01J3/02 | .零部件 |
----------G01J3/30 | ..直接从光谱本身测量谱线强度 |
------------G01J3/36 | ...利用分开的检测器测试两个或更多的谱带 |