基本信息:

• 专利标题： 光学非破壊検査装置及び光学非破壊検査方法
• 专利标题（英）：Optical nondestructive inspection apparatus and an optical non-destructive inspection methods
• 申请号：JP2013087121 申请日：2013-04-18
• 公开(公告)号：JP6160200B2 公开(公告)日：2017-07-12
• 发明人： 松本 直樹 , 吉田 航也 , 松本 順
• 申请人： 株式会社ジェイテクト
• 申请人地址： 大阪府大阪市中央区南船場3丁目5番8号
• 专利权人： 株式会社ジェイテクト
• 当前专利权人： 株式会社ジェイテクト
• 当前专利权人地址： 大阪府大阪市中央区南船場3丁目5番8号
• 代理人： 特許業務法人岡田国際特許事務所
• 主分类号： G01N25/72
• IPC分类号： G01N25/72 ; G01J5/60

公开/授权文献:

• JP2014211340A  光学非破壊検査装置及び光学非破壊検査方法 公开/授权日：2014-11-13

信息查询: