基本信息:

• 专利标题： 太陽電池のI−V特性測定装置、I−V特性測定方法、及び、I−V特性測定装置用プログラム
• 专利标题（英）：i-v characteristic measurement apparatus of a solar cell, i-v characteristic measurement method, and, i-v characteristic measurement device program
• 申请号：JP2014097938 申请日：2014-05-09
• 公开(公告)号：JP6103311B2 公开(公告)日：2017-03-29
• 发明人： 菱川 善博 , 志村 陽哉 , 鎌谷 幸平 , 近藤 一 , 下埜 彰夫
• 申请人： 国立研究開発法人産業技術総合研究所 ,  共進電機株式会社
• 申请人地址： 東京都千代田区霞が関1−3−1
• 专利权人： 国立研究開発法人産業技術総合研究所,共進電機株式会社
• 当前专利权人： 国立研究開発法人産業技術総合研究所,共進電機株式会社
• 当前专利权人地址： 東京都千代田区霞が関1−3−1
• 代理人： 西村 竜平; 齊藤 真大
• 优先权： JP2013116826 2013-06-03
• 主分类号： G01M11/00
• IPC分类号： G01M11/00 ; G01J1/00 ; G01R31/26 ; H02S50/15

公开/授权文献:

• JP2015015879A  太陽電池のＩ−Ｖ特性測定装置、Ｉ−Ｖ特性測定方法、及び、Ｉ−Ｖ特性測定装置用プログラム 公开/授权日：2015-01-22

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